飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 于 2016 年 3 月落戶(hù)北京科技大學(xué)。北京科技大學(xué)的用戶(hù)主要觀(guān)察各種合金材料中夾雜物相及其拉伸斷裂斷口形態(tài)，飛納臺式掃描電鏡樣品室版 Phenom XL 配備的背散射電子和二次電子探測器可滿(mǎn)足該用戶(hù)所有待觀(guān)測樣品的測試需求。觀(guān)察合金材料中夾雜物相， Phenom XL 的背散射電子探測器是不錯的選擇，因為使用背散射電子探測器可以同時(shí)觀(guān)察樣品表面的形貌和成分信息，從而幫助用戶(hù)區分出夾雜物。當觀(guān)察合金材料拉伸斷裂斷口形態(tài)時(shí)，可以使用  Phenom XL 的二次電子探測器，您將獲得清晰立體的斷口形態(tài)掃描電鏡圖像。Phenom XL 采用壽命為 1500 小時(shí)的 CeB6 燈絲，亮度是鎢燈絲的 10 倍，可以顯著(zhù)提高掃描電鏡圖像的分辨率，提供表面細節豐富的高質(zhì)量圖片。

背散射電子像觀(guān)察鋁合金中各種夾雜物相

二次電子觀(guān)察鋁合金拉伸斷裂斷口

飛納電鏡操作簡(jiǎn)易，非常適合沒(méi)有掃描電鏡操作經(jīng)驗的用戶(hù)。自動(dòng)馬達樣品臺配合光學(xué)導航，僅需 15s 的抽真空時(shí)間，可以方便快速地檢測樣品。能譜 EDS *的反卷積擬合功能使得定性和定量更加準確可信。飛納臺式掃描電鏡樣品室版 Phenom XL 必將有力推動(dòng)中國新金屬材料的發(fā)展。

鋁合金中的鐵析出相成分及含量判定

用戶(hù)認真學(xué)習飛納電鏡

順利拿到培訓合格證書(shū)

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