原位樣品桿知識：一文認識原位透射電鏡技術(shù)

在科學(xué)研究和工業(yè)應用中，觀(guān)察和理解材料的微觀(guān)結構和性質(zhì)是至關(guān)重要的。我們通過(guò)幾個(gè)方面梳理原位透射電鏡技術(shù)的概念、發(fā)展和應用等方面來(lái)更好的幫助大家認識原位透射電子顯微技術(shù)。

傳統的透射電子顯微鏡（transmission electron microscopy，簡(jiǎn)稱(chēng)TEM）是一種用來(lái)觀(guān)察材料內部結構的強大工具,對于材料學(xué)科的發(fā)展起到了巨大的推動(dòng)作用。許多新型的納米材料、材料結構和性能之間的關(guān)聯(lián)、材料物理化學(xué)反應機理等研究成果不斷涌現。然而，因為傳統的透射電子顯微鏡（TEM）觀(guān)測只能對材料在真空環(huán)境下進(jìn)行靜態(tài)表征，而許多材料的性能和行為在不同環(huán)境或實(shí)際工作條件下可能發(fā)生變化，傳統 TEM 無(wú)法提供與之相關(guān)的信息。

由此，原位透射電鏡（in-situ transmission electron microscopy，簡(jiǎn)稱(chēng) in-situ TEM）應運而生，該項技術(shù)允許研究人員在實(shí)時(shí)觀(guān)察和操控樣品的條件下進(jìn)行高分辨率成像和表征。并能夠實(shí)現直接從原子層次觀(guān)察樣品在力、熱、電、磁作用下以及在化學(xué)反應過(guò)程中研究材料的結構和行為，并直接觀(guān)察相變、位錯運動(dòng)、晶體生長(cháng)等動(dòng)態(tài)過(guò)程。通過(guò) in-situ TEM，研究人員可以更深入地了解材料的性能、相互作用和響應機制，一度成為材料研究最為熱門(mén)的工具。

原位透射電子顯微技術(shù)（in-situ TEM）是一種先進(jìn)的顯微鏡技術(shù)，可以在原子尺度下實(shí)時(shí)觀(guān)察材料的結構和行為。它結合了透射電子顯微鏡和原位實(shí)驗技術(shù)，通過(guò)在不同環(huán)境條件下對材料進(jìn)行觀(guān)察，揭示材料在真實(shí)工作環(huán)境下的行為和變化過(guò)程。

與傳統透射電子顯微鏡技術(shù)相比，原位透射電子顯微鏡技術(shù)的主要區別在于其實(shí)時(shí)觀(guān)察能力和對材料的動(dòng)態(tài)行為的研究。傳統透射電子顯微鏡主要用于對固定樣品的靜態(tài)觀(guān)察，而原位透射電子顯微鏡技術(shù)允許研究人員在材料受到外部刺激或不同環(huán)境條件下進(jìn)行實(shí)時(shí)觀(guān)察。

此外，原位透射電子顯微技術(shù)還具有以下特點(diǎn)和優(yōu)勢：

1. 高分辨率：原位透射電子顯微技術(shù)具有很高的分辨率，可以觀(guān)察到材料的細微結構和原子級別的細節。

2. 實(shí)時(shí)觀(guān)察：該技術(shù)能夠提供實(shí)時(shí)的觀(guān)察能力，使研究人員可以在材料發(fā)生變化的過(guò)程中進(jìn)行觀(guān)察和記錄。

3. 多尺度觀(guān)察：原位透射電子顯微技術(shù)可以在不同尺度上觀(guān)察材料的結構和行為，從宏觀(guān)到納米級別。

4. 環(huán)境控制：該技術(shù)允許在不同環(huán)境條件下進(jìn)行觀(guān)察，如高溫、低溫、高壓、不同氣氛等，模擬材料在實(shí)際應用中的工作環(huán)境。

原位透射電子顯微技術(shù)通過(guò)結合高能電子束、實(shí)時(shí)觀(guān)察和環(huán)境控制，為研究人員提供了一種強大的工具，用于揭示材料的結構、性質(zhì)和動(dòng)態(tài)行為，以推動(dòng)材料科學(xué)和相關(guān)領(lǐng)域的研究和應用發(fā)展。