Technoorg  Linda GIB TEM樣品制備 精修離子束系統

用于掃描電鏡 / 雙束電鏡的氬離子束方案

Technoorg  Linda  GIB TEM樣品制備 精修離子束系統的低能氬離子槍?zhuān)?/span>GIB） 適用于表面減薄、其他表面處理后的后處理、清潔以及去除無(wú)定形和氧 化物表面層。 當低能氬離子槍集成到掃描電鏡中時(shí) ，其作用尤為明顯。有了集成離子槍 ，就可以在研究之前對樣品  進(jìn)行精修。 實(shí)現高質(zhì)量樣品的另一個(gè)重要應用是在雙束 SEM / FIB 系統中進(jìn)行 FIB 樣品制備后，對 TEM 樣品進(jìn)行最 終拋光和溫和的表面清潔。

可與掃描電鏡集成

帶波紋管的傳輸系統可通過(guò)連接管安裝到掃描電鏡上。連 接管輸出法蘭的尺寸與相應的 SEM 端口尺寸相匹配。通  過(guò)線(xiàn)性傳輸系統提供的離子源流動(dòng)性，可實(shí)現理想的工作 距離（15-30 mm）。

低能量氬離子槍

低能量離子槍的直徑和長(cháng)度均為  50mm。氬離子束的能 量范圍：100eV - 2kV。 2kV 時(shí)的最大束流為 70µA。離 子束為寬束，半最大全寬（FWHM）為 2mm。

半管支架

低能量離子槍安裝在半管支架中。