飛納掃描電鏡結合孔徑統計分析測量系統，能夠輕松生成并分析掃描電鏡（SEM）圖像。一體化孔徑統計分析測量系統能夠使用戶(hù)獲得孔徑的分布狀態(tài)、孔隙參數如孔徑尺寸和長(cháng)寬比。全自動(dòng)化的孔徑統計分析測量系統提供超越光學(xué)顯微鏡觀(guān)察水平的結果，帶來(lái)進(jìn)一步的探索和創(chuàng )新。生成報告時(shí)，可以把柱狀圖和生成的圖像以選定的格式輸出。

孔徑統計分析測量系統使用戶(hù)更好地了解材料特性，可以提取出完整的孔徑詳細信息。孔徑統計分析測量系統拉開(kāi)了孔徑測量軟件的大幕。在探究多孔結構對材料孔隙率和過(guò)濾工藝的影響時(shí)，這種分析尤其重要。

1）從飛納電鏡中直接獲取圖像

2）測量孔徑的屬性數據，如面積、長(cháng)軸、短軸等

3）操作快捷方便，提高工作效率，使工作安排簡(jiǎn)單化可預測
4）圖像采集自由化，數據可存儲在網(wǎng)絡(luò )和 U 盤(pán)，便于分享、交流和參閱
5）導出統計數據時(shí)，可同時(shí)導出清晰圖片