Pharos-STEM樣品杯

Phenom Pharos STEM 臺式場(chǎng)發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡，配備了 STEM 樣品杯，從另一個(gè)維度提高了其成像能力和應用的多樣性

1）臺式場(chǎng)發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡；

2）可以在低加速電壓下獲得高襯度圖像，提供材料形貌的更多細節；
3）可以選擇明場(chǎng) (BF)、暗場(chǎng)(DF)和高角度環(huán)形暗場(chǎng)(HAADF) 成像模式。

Phenom Pharos 臺式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡因其多功能性和較好的成像性能贏(yíng)得了良好的口碑 —— 即使是在傳統較難觀(guān)測的樣品中也表現優(yōu)異。直觀(guān)的用戶(hù)界面有助于將高分辨率圖像呈現給用戶(hù)， FEG 場(chǎng)發(fā)射電子源在 1-20kV 的加速電壓范圍內都提供了高分辨率。
Phenom Pharos STEM 臺式場(chǎng)發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡，配備了 STEM 樣品杯，從另一個(gè)維度提高了其成像能力和
應用的多樣性。Pharos STEM 電子顯微鏡，利用 FEG 高亮度電子源，可在透射模式下對薄樣品進(jìn)行成像。專(zhuān)用的樣品夾可輕松裝載常規3mm 直徑透射電鏡（TEM）載網(wǎng)，實(shí)現樣品的快速、安全切換。STEM 樣品杯可提供明場(chǎng) (BF) 、暗場(chǎng) (DF) 和高角度環(huán)形
暗場(chǎng) (HAADF) 像，并支持自定義選擇成像模式。