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復納科學(xué)儀器(上海)有限公司
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DENS TEM 原位熱電桿

更新時(shí)間:2023-11-15
產(chǎn)品型號:Lightning
所屬分類(lèi):Lightning 原位熱電桿
描述:Lightning TEM 原位熱電方案是為了幫助研究人員在精確控制加電和加熱環(huán)境的同時(shí)觀(guān)察樣品變化的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)過(guò)程,擴展了在TEM中的應用范圍。搭配的 Lightning Nano-chip 芯片能夠提供最高精度控制樣品偏壓和加熱環(huán)境的能力,能在 900℃ 高溫下同時(shí)實(shí)現高于300kV/cm 的電場(chǎng),芯片擁有多種配置,能夠滿(mǎn)足不同的實(shí)驗要求,并都能保證 TEM 的原子級分辨率成像能力。
詳情介紹

 

DENS Lightning TEM 原位熱電方案

圖片1.png

Lignting-芯片.png

DENSsolutions-logo-big.png

 

 

01 產(chǎn)品概況

Lightning TEM 原位熱電方案是為了幫助研究人員在精確控制加電和加熱環(huán)境的同時(shí)觀(guān)察樣品變化的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)過(guò)程,擴展了在TEM中的應用范圍。搭配的 Lightning Nano-chip 芯片能夠提供最高精度控制樣品偏壓和加熱環(huán)境的能力,能在 900℃ 高溫下同時(shí)實(shí)現高于300kV/cm 的電場(chǎng),芯片擁有多種配置,能夠滿(mǎn)足不同的實(shí)驗要求,并都能保證 TEM 的原子級分辨率成像能力,同時(shí)創(chuàng )建了最為真實(shí)的應用環(huán)境。在進(jìn)行熱學(xué)研究的同時(shí),在 pA 電流靈敏度下完成 I-V 測試,為原位實(shí)驗研究提供了全新的觀(guān)察視角。

 

02 產(chǎn)品特點(diǎn)

 

 

樣品制備簡(jiǎn)單便捷

 

1. 樣品制備成功率高

使用我們專(zhuān)有的 FIB 樣品臺、Nano-Chip 芯片和詳細的

制樣流程簡(jiǎn)化了整個(gè)制樣過(guò)程。

2. 優(yōu)質(zhì)的 FIB 薄片

直接在芯片上進(jìn)行最終減薄,而不影響加熱和加電性能。

 

00 DENS 綜合彩頁(yè) L.jpg

 

可靠的環(huán)境刺激控制

1. 精準控制加熱和加電

四探針?lè )榧訜岷图与娫O計提供了最準確的溫度、電壓和

電流控制。

2. 原位環(huán)境刺激范圍廣

基于 MEMS 的 Nano-Chip 芯片旨在單獨或同時(shí)承受最高

溫度和電場(chǎng)。

3. 可靠的溫度

可通過(guò)使用 EELS 和 SAED 技術(shù)在 TEM 中直接驗證溫

度。

 

 

 

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高質(zhì)量的數據結果

1. 全新的觀(guān)察視角

進(jìn)行熱學(xué)研究的同時(shí),在具有真正 pA 電流靈敏度的條件

下測量 I-V。

2. 超高穩定性

即使溫度達到 1000 °C( ΔT = 1000 °C),漂移率也小

于 200 nm,樣品穩定時(shí)間短,即使在高電壓下也能達到

原子級分辨率。

3. 不受影響的 STEM/TEM 性能

較小的 Z 軸位移(膨脹)保證了分辨率不受影響,且無(wú)

需移動(dòng)樣品臺。

 

 

 

 

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03. 案例分享
 

下圖是在 800℃ 的條件下,我們對樣品進(jìn)行加電實(shí)驗,觀(guān)察樣品核殼納米材料在 HRTEM 下顯示的結構變化,并且此時(shí)電壓可以達到值。樣品桿具有高穩定性,即便在最高溫度和電場(chǎng)環(huán)境下,也能實(shí)現常規的原子分辨率成像。

圖片5.png

 

 

04 應用領(lǐng)域

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05 原位實(shí)驗技術(shù)簡(jiǎn)介

透射電子顯微鏡(TEM)一直是觀(guān)察微觀(guān)世界的有力工具。尤其是球差矯正器的出現,科學(xué)家已經(jīng)可以實(shí)現在原子尺度上對材料的化學(xué)結構進(jìn)行表征成像。此外,TEM 的進(jìn)步也帶動(dòng)了 CCD 相機的發(fā)展,這樣,TEM 就同時(shí)具有優(yōu)異的空間分辨率和時(shí)間分辨率,那么時(shí)間和空間的結合,是否可以讓 TEM 動(dòng)起來(lái)?

眾所皆知,TEM 需要在高真空條件下表征靜止狀態(tài)下的樣品,但這不足以反映材料在真實(shí)環(huán)境下的微觀(guān)結構。為此,荷蘭 DENSsolutions 公司多位科學(xué)家利用最新的 MEMS 技術(shù),設計出的納米芯片,據此可以向 TEM 中引入動(dòng)態(tài)外界刺激條件,模擬樣品在真實(shí)環(huán)境下的狀態(tài),打破壓力的限制,記錄樣品的動(dòng)態(tài)變化過(guò)程,讓 TEM真正的實(shí)現動(dòng)起來(lái)。

荷蘭 DENSsolutions 公司為透射電鏡提供技術(shù)先進(jìn)的、納米尺度的原位顯微工具,其產(chǎn)品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激,捕捉 TEM 樣品在真實(shí)環(huán)境下的動(dòng)態(tài)現象。目前,已經(jīng)可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態(tài)。

歡迎隨時(shí)聯(lián)系我們獲取更多產(chǎn)品方案和技術(shù)支持

 

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