飛納電鏡射擊殘留物分析（GSR）的背散射成像，用來(lái)掃描樣品和發(fā)現可疑的 “GSR" 顆粒。一旦發(fā)現可疑的顆粒，使用能譜（EDS）識別在該粒子中的元素。zui常見(jiàn)的搜索元素為 Pb，Sb 和 Ba。無(wú)鉛底火的檢測，例如 Ti 和 Zn 也可為搜索條件進(jìn)行搜索。

飛納電鏡射擊殘留物分析（GSR）是在臺式掃描電鏡運行自動(dòng)射擊殘留物分析軟件。其設計基于飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件*一體化，以提高用戶(hù)操作界面友好性，可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個(gè)項目：自動(dòng)射擊殘留物分析和分類(lèi)軟件包，BSED 和 EDS 探頭內部集成，校準試樣。

配備 CeB6 燈絲，使其穩定運行，燈絲壽命不低于 1500 個(gè)小時(shí)，從可用性，適用性和運行時(shí)間的角度來(lái)看都非常理想。小于 1 分鐘的加載時(shí)間，和快速的全自動(dòng)馬達樣品臺，使得飛納 GSR 成為高度自動(dòng)化應用的理想工具，可以用來(lái)進(jìn)行自動(dòng)射擊殘留物分析。

飛納電鏡射擊殘留物分析 Phenom GSR

• 基于 CeB6 燈絲的高分辨圖像

• 直觀(guān)易用的 GSR 軟件

• 高吞吐量，一次性放置多達 36 個(gè)試樣

• 操作簡(jiǎn)單，*丟失導航系統，*集成能譜儀

• 測量結果準確可靠，廣泛兼容法醫領(lǐng)域的各類(lèi)應用

規格參數