Technoorg Linda Co. Ltd. 1990 年創(chuàng)立于匈牙利布達佩斯。專注于高質量的樣品制備設備和相關解決方案的開發(fā)與制造。多年來一直在材料科學、電子顯微鏡和光學領域提供創(chuàng)新的產品和服務。

為了滿足客戶的質量要求，Technoorg Linda 自 2004 年起實施了符合 ISO 9001 標準要求的質量管理體系。

近期，Technoorg  Linda 公司CEO András Szigethy 接受了匈牙利雜志《Innotéka》的采訪：

  András Szigethy： 

卡塔琳·卡里科（Katalin Karikó）（2023 年諾貝爾生理學或醫(yī)學獎獲得者）和費倫茨·克勞斯（Ferenc Krausz）（2023 年諾貝爾物理學獎獲得者）的成功使匈牙利自然科學研究名聲大噪。

然而，除了學術上的成功，我們很少聽說匈牙利的科技公司代表著很高的標準，并決定了特定行業(yè)的發(fā)展步伐。但是，在電子顯微鏡樣品制備領域，Technoorg Linda 的離子束樣品制備產品 30 多年來一直被認為是該領域質量較高的設備。

熱敏樣品的制備

“如今，必須在納米范圍內尋找進一步發(fā)展高科技的潛力，這決定了設備技術的范圍。"András Szigethy 解釋道。研究人員需要基于全新的想法來確定發(fā)展方向。這十年的標志性產業(yè)不僅對人民福祉和環(huán)境發(fā)展產生影響，而且對國家和各大洲的基本戰(zhàn)略也具有決定性影響。

這些領域包括半導體制造和電池行業(yè)。Technoorg Linda 公司的目標是尋找并解決這些行業(yè)中出現的問題，提供方案。其專業(yè)領域是在不影響原始狀態(tài)的情況下，探索待研究的材料和原子結構。

András Szigethy， Technoorg Linda CEO

我們懷著無盡的興奮展望未來 —— CEO繼續(xù)說道。近年來，Technoorg Linda 作為樣品制備的解決方案，成功實現了離子束技術出現在一個未知的新領域。

成功的關鍵是有針對性的開發(fā) —— 考慮到掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）的市場需求。

電池隔膜橫截面圖像及其陽極或陰極的處理絕非易事（圖1）。在保證材料質量的前提下，這類樣品的微觀結構無法通過傳統的樣品制備方法（切割、拋光）檢測到。作為高孔隙率有機聚合物薄膜樣品，具有絕緣性能，同時也是熱敏感樣品，無法使用高熱切割方法。高溫會熔化樣品，阻礙研究人員對樣品真實結構的觀察。因此，電池行業(yè)需要新的解決方案。

圖1.將多晶三元材料通過離子研磨儀切割后，可以觀察到顆粒內部的真實情況。（來源：Technoorg Linda）

憑借 30 多年的專業(yè)經驗，Technoorg Linda 開發(fā)了用于掃描電子顯微鏡樣品無損加工工藝。通過 Ar 離子束的能量在材料表面進行微觀改性，從而實現高精度、高效率，無機械損傷的樣品表面處理。除此之外，設備甚至不使用冷卻，從而形成了有特色的解決方案。                                                                       

圖2電池隔膜橫截面掃描電子顯微鏡圖像。具有兩種不同微觀結構的聚烯烴相，可以清晰地觀察到明顯差異（來源：Technoorg Linda）

Technoorg Linda 戰(zhàn)略

“自公司成立以來，我們一直在尋找挑戰(zhàn)，我們不斷學習、創(chuàng)新，從而擴大 Technoorg Linda 在這一特定領域的專業(yè)知識和經驗。畢竟，如果沒有正確制備樣品，就不可能獲得高精度、高分辨率的顯微圖像。對我們來說，這些行業(yè)：比如芯片或電池制造，代表著進步；我們不是要追趕，而是要走在他們前面，為他們提供新的機會。我們的團隊很幸運地繼承了上一代人的職業(yè)道德和公司政策，注重團隊精神、前瞻性思維和積極尋找挑戰(zhàn)。我們的目標是讓 Technoorg Linda 這個名字成為高品質、易學且高效的樣品制備的代名詞。"

“Technoorg Linda 產品為所有需要了解材料真實結構的研究人員提供了完整的工作流程和樣品制備解決方案，無論是地質、冶金還是陶瓷領域。例如，從聚焦離子束 (FIB) 制成的薄片中去除鎵、多孔樣品無塵制備、對水或氧敏感樣品表面的處理和后續(xù)的運輸以及處理多層樣品表面的橫截面。得益于這種思維方式，我們的產品可以在世界許多大學、研究中心和工業(yè)實驗室中找到。"

復納科學儀器（上海）有限公司作為Technoorg Linda 在中國的合作伙伴，我們?yōu)榭蛻籼峁┊a品培訓、技術支持和售后服務。當前在國內市場專注于引進并推廣 SEM/TEM/FIB 樣品制備系列設備。其中，SEMPrep2 離子研磨儀主要用于掃描電鏡（SEM）樣品制備，UniMill 離子減薄儀主要用于透射電鏡（TEM）樣品制備，Gentle Mill 離子精修儀主要用于改善 FIB 處理后的樣品。