掃描電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡，可用于觀(guān)察物質(zhì)表面形貌和結構，它與光學(xué)顯微鏡相比，具有更高的放大倍數和更大的深度焦距，可以獲得更清晰、更詳細的物體表面信息。在繼承了Phenom（飛納）產(chǎn)品操作方便、30秒快速成優(yōu)質(zhì)圖像、售后無(wú)憂(yōu)等優(yōu)點(diǎn)的同時(shí)，電鏡分辨率和圖像質(zhì)量顯著(zhù)提高。采用了壽命高達1500小時(shí)的新一代CeB6燈絲和分辨率更高，功能更全的光學(xué)顯微鏡，提高后的光學(xué)顯微鏡有聚焦功能，放大倍數在20-120倍之間，具備明場(chǎng)和暗場(chǎng)兩種模式。
掃描電子顯微鏡功能如下：
大深度焦距：掃描電子顯微鏡的深度焦距比普通顯微鏡大很多，可以同時(shí)觀(guān)察到不同深度的物體表面信息。
高分辨率：掃描電子顯微鏡具有非常高的分辨率，可達到納米級別，能夠顯示出非常微小的物體表面的細節。
圖像處理：掃描電子顯微鏡的圖像可以進(jìn)行數字化處理和增強，可用于三維重建、表面形貌分析、化學(xué)成分分析等。
種類(lèi)繁多：目前已經(jīng)研究開(kāi)發(fā)了多種不同類(lèi)型的掃描電子顯微鏡，包括FE-SEM、VP-SEM、EBSD等，可廣泛應用于材料科學(xué)、生物醫學(xué)、納米科技等領(lǐng)域。
掃描電子顯微鏡的應用前景非常廣闊。它可以被廣泛應用于各個(gè)領(lǐng)域，如從納米材料到生物醫學(xué)、從環(huán)境污染到化學(xué)分析等。許多新興領(lǐng)域的發(fā)展都離不開(kāi)SEM技術(shù)的支持，如納米科技、光電子學(xué)和能源材料等。此外，隨著(zhù)SEM技術(shù)的不斷發(fā)展和創(chuàng )新，其應用前景也將不斷拓展。
當使用掃描電子顯微鏡時(shí)，需要注意相關(guān)安全操作規程和維護保養要求。例如，禁止在真空環(huán)境下打開(kāi)或關(guān)閉電子槍或樣品室門(mén)，以避免產(chǎn)生危險的壓力變化；定期清潔顯微鏡和樣品，以確保儀器正常工作和圖像質(zhì)量。
