掃描電子顯微鏡是利用材料表面微區的特征(如形貌、原子序數、化學(xué)成分、或晶體結構等)的差異,在電子束作用下通過(guò)試樣不同區域產(chǎn)生不同的亮度差異,從而獲得具有一定襯度的圖像。掃描電子顯微鏡,是自上世紀60年代作為商用電鏡面世以來(lái)迅速發(fā)展起來(lái)的一種新型的電子光學(xué)儀器,被廣泛地應用于化學(xué)、生物、醫學(xué)、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個(gè)研究領(lǐng)域和工業(yè)部門(mén)。
掃描電子顯微鏡的工作原理如下:
電子源產(chǎn)生電子束:SEM使用熱陰極或場(chǎng)發(fā)射電子槍產(chǎn)生高能電子束,這些電子束被聚焦成小直徑的束流。
樣品準備:待測試的樣品需要進(jìn)行預處理,通常包括去除表面污染物、涂覆導電層(如金屬薄層)等。
樣品掃描:電子束通過(guò)聚焦和掃描系統,在樣品表面進(jìn)行掃描。掃描過(guò)程是通過(guò)掃描線(xiàn)按照預定方式移動(dòng)并逐點(diǎn)照射樣品表面。
信號生成:當電子束與樣品相互作用時(shí),會(huì )產(chǎn)生多種信號,包括二次電子、反射電子、散射電子和特征X射線(xiàn)等。
信號檢測:采集并檢測上述信號,并將其轉換為電子圖像或光譜數據。
數據顯示與分析:通過(guò)電子圖像展示樣品表面的形貌和組成信息,可以進(jìn)行進(jìn)一步的分析和觀(guān)察。
掃描電子顯微鏡具有以下特點(diǎn):
高分辨率:相比光學(xué)顯微鏡,SEM具有更高的分辨率,可以顯示更小尺寸的細節。
大深度視場(chǎng):SEM具有較大的深度視場(chǎng),使得整個(gè)樣品表面能夠被觀(guān)察,不受焦距限制。
表面形貌觀(guān)察:SEM可用于觀(guān)察樣品的表面形貌,包括紋理、坑洞、凹凸等微觀(guān)結構。
元素組成分析:SEM結合能譜分析技術(shù)(EDS或EDX)可以測量樣品中元素的組成,提供定性和定量的元素分析結果。