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飛納掃描電鏡樣品制備

 更新時(shí)間:2021-09-23 點(diǎn)擊量:1302
  飛納掃描電鏡是一款使用高亮度CeB6燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數350,000倍,用于觀(guān)察納米或者亞微米樣品的微觀(guān)結構。
 
  一、掃描電鏡樣品的基本要求:
 
  1、導電性能好,樣品在電子束反復掃描下表面電位不會(huì )升啊,避免電荷效應;
 
  2、熱穩定性能好,電子束溫度較高,導熱性差的樣品在觀(guān)察時(shí)會(huì )漂移,圖像不穩定有些熱敏感材料會(huì )損傷,觀(guān)察部位起泡、龜裂、出現空洞;
 
  3、二次電子和背散射電子產(chǎn)率高;
 
  簡(jiǎn)單的說(shuō):
 
  1、樣品的導電性
 
  2、樣品的尺寸
 
  3、樣品的清潔干燥
 
  4、粉末樣品的固定
 
  5、組織、夾雜物試樣的制備
 
  因DBSD的樣品分析時(shí)要傾斜70°等特性,EBSD的樣品制備要求更高一些,表面平整、清潔、無(wú)殘余應力;需要絕對的取向數據時(shí),樣品外觀(guān)坐標系要準確,尺寸約為1-3CM或稍小一些。
 
  二、樣品的制備:
 
  1、試樣的鑲嵌
 
  什么時(shí)候鑲嵌:
 
  a、在看邊緣信息時(shí)
 
  b、試樣太小或者形狀很不規則時(shí)
 
  鑲嵌類(lèi)型分以下兩種:
 
  熱鑲嵌法:首先要保證發(fā)生熱固化或熱塑性的溫度不會(huì )導致被鑲嵌試樣組織發(fā)生變化。通常推薦熱鑲嵌方式。
 
  冷鑲嵌法:環(huán)氧樹(shù)脂或丙烯酸樹(shù)脂
 
  2、試樣的清潔
 
  樣品受污染或SEM受到污染會(huì )導致圖像質(zhì)量變差,所以清潔樣品很重要,可用吸耳球吹或者將樣品放入丙酮或者酒精中,超聲清潔至少10秒。
 
  3、試樣的磨拋
 
  飛納掃描電鏡產(chǎn)品參數:
 
  光學(xué)顯微鏡:放大20-135倍
 
  電子顯微鏡:350,000倍
 
  探測器:高靈敏度四分割背散射電子探測器
 
  燈絲材料:1,500小時(shí)CeB6燈絲
 
  分辨率:優(yōu)于6nm
 
  放置環(huán)境:采用專(zhuān)業(yè)防震設計,可擺放于普通實(shí)驗室或辦公室、廠(chǎng)房
 
  加速電壓:5kV-15kV連續可調
 
  抽真空時(shí)間:小于15秒

傳真:

郵箱:info@phenom-china.com

地址:上海市閔行區虹橋鎮申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場(chǎng) T5,705 室

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