飛納電鏡為客戶(hù)配備了二次電子成像模式，使得對樣品立體外觀(guān)形貌的觀(guān)察又上了一個(gè)臺階。飛納電鏡擁有了兩只觀(guān)測樣品的“眼睛”——背散射探測器（BSD）和二次電子探測器（SED），不管您有什么觀(guān)測需求，這兩只“眼睛”都可以滿(mǎn)足您絕大部分的要求。

二次電子模式

飛納臺式掃描電鏡內部可配備二次電子探頭，收集從樣品中被轟擊出的二次電子。這些二次電子主要來(lái)源于距樣品 1~10nm 的表面，由于入射深度小，入射電子的作用區域與入射束的束斑尺寸差別不大，所以相同條件下，二次電子的分辨率是優(yōu)于背散射圖像的。而且，由于二次電子對樣品傾斜角度更敏感，二次電子圖像可以呈現更好的立體形貌，如下圖所示。