掃描電鏡中拉伸臺是常見(jiàn)的原位材料力學(xué)性能分析選配件（圖1），主要用于形變或斷裂微區分析，可以實(shí)時(shí)觀(guān)察到裂紋開(kāi)裂過(guò)程，對于材料斷裂機理研究非常有幫助。

飛納電鏡工程師在原位拉伸試驗中進(jìn)行多次探索，做出非常多有意思的結果，幫助科研人員從微觀(guān)解讀和認識材料的開(kāi)裂、失效機制，并進(jìn)一步對材料進(jìn)行提升。這些材料包括金屬、皮革、薄膜材料、橡膠等。（見(jiàn)“掃描電鏡中的原位拉伸臺應用實(shí)例”一文）

在這些試驗中，不僅可以記錄、拍攝樣品斷裂瞬間的形貌特征，還可以實(shí)時(shí)控制樣品在拉伸過(guò)程中的應變量（ε）、應變速度（?）、疲勞試驗循環(huán)次數（N）等物理量，并通過(guò)力學(xué)傳感器實(shí)時(shí)讀取加載在樣品表面上的力，繪制應力應變曲線(xiàn)，從多個(gè)維度對樣品屬性進(jìn)行探究。

圖一：飛納電鏡拉伸臺