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近年來(lái),隨著(zhù)科技的發(fā)展和材料尺寸的不斷縮小,掃描電鏡(SEM)已經(jīng)成為一種非常有價(jià)值的表征方法。SEM作為一種通用的工具,方便用戶(hù)可以對各種各樣的材料進(jìn)行多種不同類(lèi)型的分析。為獲得更好的結果,用戶(hù)應該仔細設定SEM參數。其中一個(gè)設置是束斑直徑,即照射在樣品上的電子束直徑。在這篇博客中,闡述了如何在SEM中調整束斑直徑,以及如何在高分辨率成像和大束流之間實(shí)現平衡,以獲得*結果。
如何在SEM下調整束斑直徑
描述SEM中電子束性質(zhì)的四個(gè)主要參數如圖1所示:
圖1:SEM中電子束的四個(gè)主要參數:加速電壓、會(huì )聚角、電子束流和束斑直徑
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