電鏡在陶瓷類(lèi)樣品的觀(guān)察中應用非常廣泛，本文首先介紹了掃描電鏡在陶瓷樣品觀(guān)察上的常規方法，繼而結合筆者多年制樣經(jīng)驗，就玻璃相的制樣處理方法、電子束穿透深度對圖像的影響、能譜分析技術(shù)和飛納電鏡拓展軟件分別作了闡述。分為上下兩部分進(jìn)行討論。

掃描電鏡在陶瓷樣品觀(guān)察上的常規方法

（a）

（b）

圖1 飛納電鏡照片(a)功能摻雜陶瓷1000×(b)陶瓷片斷面2000×

圖1陶瓷的SEM照片比較常見(jiàn)，那么一般陶瓷類(lèi)樣品用掃描電鏡做什么呢？無(wú)外乎以下幾個(gè)方面的研究，顯微結構分析：晶體生長(cháng)機理、臺階、位錯、缺陷等的研究；成分非均勻性、殼芯結構、包裹結構的研究；靜態(tài)或動(dòng)態(tài)微觀(guān)裂紋或氣孔的研究；加熱前后晶體合成、氣化、聚合反應等研究；微區成分分析。