某些樣品很難成像。有時(shí)即使前期使用的制樣方法，也不能幫助你得到想要的結果。樣品表面粗糙度和表面特征可能會(huì )將你感興趣的特定區域覆蓋，這些區域可能包含材料的表面缺陷或特征等重要信息。正如這個(gè)案例一樣，你需要從一個(gè)新的角度解析。例如在電腦芯片上進(jìn)行故障分析時(shí)，一根導線(xiàn)或者其他物體可能會(huì )將導致故障的錯誤連接覆蓋住?；蚴墙y計特殊設計的合金顆粒，這些顆粒能提高發(fā)動(dòng)機部件或微型醫療工具的性能，由于表面粗糙結構能將部分顆粒隱藏，使得統計結果不準確。