原位樣品桿系列產(chǎn)品在科學(xué)研究和工業(yè)領(lǐng)域具有廣泛的應用，研究人員可以利用這些設備進(jìn)行材料結構、相變、生長(cháng)過(guò)程、電化學(xué)反應等方面的原位觀(guān)察，在材料性能、催化、電化學(xué)，納米技術(shù)和材料合成等許多領(lǐng)域都具有廣泛的應用。

原位樣品桿系列產(chǎn)品選型 

01 Arctic TEM 原位冷凍熱電樣品桿

Lightning Arctic TEM 原位冷凍熱電樣品桿是 DENSsolutions 全新升級創(chuàng )新的原位解決方案，可以在冷卻或加熱樣品的同時(shí)，對其施加可控的電學(xué)刺激，并以原子級分辨率在透射電鏡下觀(guān)察樣品的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)過(guò)程。

主要性能參數

1.系統操控模式：冷凍&加電，加熱&加電

2.可運行的溫度范圍：≤ -160 ℃ - 800 ℃

3.冷凍方式：外置液氮罐

4.卻和穩定時(shí)間：≤ 60 min

5.分辨率：≤ 1 ?（取決于透射電子顯微鏡配置）

6.可達到的電流范圍：1 pA - 100 mA

02 Lightning TEM 原位熱電樣品桿

Lightning 原位熱電樣品桿可在精確控制加電和加熱環(huán)境的同時(shí)觀(guān)察樣品變化的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)過(guò)程。Lightning 能夠在進(jìn)行熱學(xué)研究的同時(shí)，在 pA 電流靈敏度下進(jìn)行 I-V 測試，其搭配的 Nano-Chip 芯片能在 900 ℃ 高溫下同時(shí)實(shí)現高于 300 kV/cm 的電場(chǎng)，芯片擁有多種配置，能夠滿(mǎn)足不同的實(shí)驗要求，同時(shí)保持 TEM 的原子級分辨率成像能力。

主要性能參數

1.溫度范圍：RT - 1,300 °C

2.可達到的電場(chǎng)范圍：≥ 300 kV/cm at RT/900 °C

3.可達到的電流范圍：1 pA - 100 mA

4.可達到的分辨率：≤ 60 pm

5.分辨率：≤ 1 ?（取決于透射電子顯微鏡配置）

6.漂移率：≤ 0.5 nm/min  

03 Climate TEM 原位氣相加熱樣品桿

Climate 原位氣相加熱樣品桿可在在氣氛環(huán)境下同時(shí)觀(guān)察樣品在加熱時(shí)的狀態(tài)變化，能夠在 2 bar 的氣體環(huán)境中進(jìn)行達 1000 ℃ 的高溫實(shí)驗，并保持 TEM 的原子分辨率，與 DENS 專(zhuān)有的氣體分析儀集成組合使用，可進(jìn)行反應產(chǎn)物分析，是當前市場(chǎng)上少有的支持結構和化學(xué)信息動(dòng)態(tài)關(guān)聯(lián)的原位系統。

同時(shí)為了滿(mǎn)足客戶(hù)研究蒸汽類(lèi)反應物對材料的影響的實(shí)驗要求，我們設計了蒸汽發(fā)生器，能夠單獨地將蒸氣添加到任何氣體混合物中，并擁有獨立控制蒸汽參數的能力，便于開(kāi)展相對應的研究，為原位實(shí)驗中提供實(shí)驗自由度。

主要性能參數

1.加熱范圍：RT - 1,000 °C

2.溫度穩定性：≤ ± 0.01 °C

3.分辨率：≤ 100 pm（取決于透射電子顯微鏡配置）

4.漂移率：≤ 0.5 nm/min

5.氣體輸入管線(xiàn)：3

6.氣體流量范圍（標準化）：0, 0.01-1 ml / min

04 Stream TEM 原位液相加熱/加電樣品桿

Stream 原位液相加熱/加電系統為材料科學(xué)、化學(xué)和生物學(xué)中各類(lèi)研究提供了全新的觀(guān)察視野。其設計的 Nano-Cell 芯片使其對樣品加熱或加電時(shí)可獨立控制流速和液體厚度。

同時(shí)全新升級可集合組裝的液體供應系統 (LSS) ，引入了精準控制和可重復使用的惰性氣體吹掃能力。通過(guò)吹掃，可以迅速去除樣品中多余的液體，從而實(shí)現高分辨成像、有價(jià)值的元素分析和電子衍射。并且液體供應系統 (LSS)能夠主動(dòng)測量液體流量，便于比較不同的實(shí)驗結果。此外，這意味著(zhù)可以很容易地發(fā)現系統中潛在的堵塞，并迅速采取行動(dòng)，能夠高效和有效地利用 TEM 機時(shí)。這些設計為原位液相實(shí)驗的原子級分辨像和高質(zhì)量的 EDS、EELS 結果帶來(lái)了新的可能性。

主要性能參數

1.溫度范圍：RT - 100 °C

2.液體模式：靜態(tài)液體、流動(dòng)液體

3.液體流量測量：可測量，通過(guò)入口液體流量計

4.液體厚度控制：可控制，通過(guò)入口和出口液體壓力控制

5.可達到的分辨率 ：≤ 3 ? （取決于透射電子顯微鏡配置）

6.可達到的電場(chǎng)范圍：1 pA - 100 mA

05 Wildfire TEM 原位加熱樣品桿

Wildfire 原位加熱樣品桿旨在探索材料在高溫下的反應和狀態(tài)變化而設計，其穩定性超越了市場(chǎng)上大部分的同類(lèi)產(chǎn)品，溫度范圍高可達 1300 ℃，并在所有的方向上保證優(yōu)異的溫度控制性和樣品穩定性，確保了在高溫下觀(guān)察樣品動(dòng)態(tài)變化過(guò)程，且 TEM 保持較高的分辨率和分析性能。

Nano Chip 芯片和四點(diǎn)探針?lè )煽焖俜答仠囟茸兓闆r，從而實(shí)現即時(shí)穩定和精確的溫度控制，避免出行加熱不均勻或熱反饋不及時(shí)的問(wèn)題。對于需要進(jìn)行高溫下三維重構研究的客戶(hù)，可選擇配備了 α 傾轉角高達 70° 的樣品桿，以便進(jìn)行多方位的研究。

主要性能參數

1.加熱控制：四探針?lè )?/p>

2.溫度范圍：RT - 1,300 °C

3.溫度均勻性：≥ 99.5 %

4.分辨率：≤ 60 pm（取決于透射電子顯微鏡配置）

5.漂移率：≤ 0.5 nm/min

6.視野范圍：850 µm2

DENS 軟件系統：Impulse 集成軟件

Impulse 軟件讓研究人員可以控制實(shí)驗條件，只需在電腦上設置好所需的原位觀(guān)測實(shí)驗條件，Impulse 將完成剩下的工作。在原位 TEM 實(shí)驗期間，軟件將根據設置好的條件進(jìn)行實(shí)驗驗證過(guò)程，而您只需專(zhuān)注于實(shí)驗結果，同時(shí)軟件上可以存儲您的實(shí)驗設計，以便重現實(shí)驗過(guò)程。

軟件特征和優(yōu)勢：

01.智能自動(dòng)化：在實(shí)驗過(guò)程中，您可以專(zhuān)注于其他事情，而智能自動(dòng)化會(huì )跟蹤測量結果并確保滿(mǎn)足所設置的樣品條件。

02.靈活的數據儀表板：Impulse 在排列和調整圖表大小方面為您提供了極大的靈活性，可輕松掌握任何數據細節。

03.數據整合：軟件支持將您的原位環(huán)境條件實(shí)驗數據與其他數據同步，并在幾秒鐘內為您的相機和探測器圖像提供環(huán)境條件注釋。

04.實(shí)驗自由：Impulse 軟件支持您使用自己創(chuàng )建的 Python 腳本進(jìn)行實(shí)驗控制。您可以選擇創(chuàng )建自己的腳本，或者使用我們的預制腳本，甚至可以在線(xiàn)訪(fǎng)問(wèn)數千個(gè) Python 模塊。這種實(shí)驗自由將使您能夠擴展研究范圍并開(kāi)展您的創(chuàng )造性實(shí)驗控制。

全新升級的 FIB 樣品臺

DENSsolutions 現在推出了第三代 FIB 制樣樣品臺，此設備可以幫助您更簡(jiǎn)單、更安全、更快捷地制備薄片樣品，且適配 DENS 樣品桿芯片。

TEM 樣品制樣設備

Technoorg Linda 的主要產(chǎn)品包括離子研磨儀、離子減薄儀、離子精修儀和樣品制備相關(guān)的配件和耗材。其產(chǎn)品可配備了超高能離子槍和低能離子槍?zhuān)ㄟ^(guò)控制離子束的能量和角度，可對樣品進(jìn)行快速研磨及表面精細加工和拋光。Technoorg Linda 系列離子束樣品制備儀器是先進(jìn)的樣品制備工具之一，廣泛應用于電子顯微鏡、X 射線(xiàn)衍射、能譜分析和納米技術(shù)等領(lǐng)域。

Unimill 離子減薄儀：用于 TEM/XTEM 樣品制備的全自動(dòng)離子束減薄系統

Gentle Mill 離子精修儀：用于制備高質(zhì)量 TEM/FIB 樣品的離子束工作站