掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀(guān)察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品，通過(guò)光束與物質(zhì)間的相互作用，來(lái)激發(fā)各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質(zhì)微觀(guān)形貌表征的目的。
電子顯微鏡是根據電子光學(xué)原理，用電子束和電子透鏡代替光束和光學(xué)透鏡，使物質(zhì)的細微結構在高的放大倍數下成像的儀器。掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope)，簡(jiǎn)稱(chēng)掃描電鏡(SEM)，是電子顯微鏡的一種。掃描電子顯微鏡主要是利用二次電子信號成像來(lái)觀(guān)察樣品的表面形態(tài)，即用狹窄的電子束去掃描樣品，通過(guò)電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個(gè)像是在樣品被掃描時(shí)按時(shí)序建立起來(lái)的，即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。
掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀(guān)形貌觀(guān)察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀(guān)成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是：
?、儆休^高的放大倍數，20-200000倍之間連續可調；
?、谠嚇又苽浜?jiǎn)單，目前的掃描電鏡都配有X射線(xiàn)能譜儀裝置，這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織形貌的觀(guān)察和微區成分分析(即SEM-EDS)，因此它是重要的科學(xué)研究?jì)x器之一；
?、塾写蟮木吧?，視野大，成像富有立體感，可直接觀(guān)察各種試樣凹凸不平表面的細微結構。
